发明授权
CN101852752B 一种测定不良导热材料热导率的装置及方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种测定不良导热材料热导率的装置及方法
- 专利标题(英): Device and method for measuring heat conductivity of poor heat conductive materials
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申请号: CN201010196681.5申请日: 2010-06-10
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公开(公告)号: CN101852752B公开(公告)日: 2013-07-24
- 发明人: 胥义 , 钟彦骞 , 王丽萍 , 吕娅
- 申请人: 上海理工大学
- 申请人地址: 上海市杨浦区军工路516号
- 专利权人: 上海理工大学
- 当前专利权人: 上海理工大学
- 当前专利权人地址: 上海市杨浦区军工路516号
- 代理机构: 上海申汇专利代理有限公司
- 代理商 吴宝根
- 主分类号: G01N25/20
- IPC分类号: G01N25/20 ; G01K7/18
摘要:
本发明涉及一种测定不良导热材料热导率的装置及方法,包括样品柱、热电堆、大型恒温金属块,样品柱周围有紧密均匀排列的热电堆,样品柱置于大型恒温金属块内,样品柱包括电源、毛细不锈钢管、绝热盖、加热电阻、温度传感器、绝热片,样品柱中心置一微细毛细不锈钢管,管内均匀缠绕微细加热电阻,加热电阻接电源,紧贴毛细钢管外壁沿轴向均匀布置至少一个电阻温度传感器,带测样品充满毛细不锈钢管与样品柱外壁之间,样品柱上下分别有绝热盖和绝热片密封。电阻温度传感器模拟信号输入控制器,控制器输出到电源。可高精度测量不良导热材料热导率,装置结构简单,操作简便。
公开/授权文献
- CN101852752A 一种测定不良导热材料热导率的装置及方法 公开/授权日:2010-10-06