发明授权
- 专利标题: 幅片厚度测量设备
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申请号: CN200880108430.8申请日: 2008-08-25
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公开(公告)号: CN101868689B公开(公告)日: 2016-11-02
- 发明人: A·赫尔斯托姆 , R·奈米 , M·奥霍拉
- 申请人: ABB有限公司
- 申请人地址: 爱尔兰都柏林
- 专利权人: ABB有限公司
- 当前专利权人: ABB有限公司
- 当前专利权人地址: 爱尔兰都柏林
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 王茂华
- 优先权: 60/969,373 2007.08.31 US
- 国际申请: PCT/US2008/010064 2008.08.25
- 国际公布: WO2009/032094 EN 2009.03.12
- 进入国家日期: 2010-03-24
- 主分类号: G01B11/06
- IPC分类号: G01B11/06 ; D21F7/06 ; G01N21/89 ; G01N33/34
摘要:
提供一种使用光学以及磁或者电感测量设备来测量幅片纸厚的感测器。光学测量设备可以运用共焦色像差方法以准确地确定与移动幅片的距离,并且磁设备可以是铁氧体磁芯线圈和靶。包括用于提高动态测量准确度的稳定移动幅片的装置。
公开/授权文献
- CN101868689A 幅片厚度测量设备 公开/授权日:2010-10-20