Invention Grant
- Patent Title: 用于测量对象的特性的装置、方法
- Patent Title (English): Apparatus, method and computer program for measuring properties of an object
-
Application No.: CN200880121105.5Application Date: 2008-12-16
-
Publication No.: CN101902951BPublication Date: 2013-01-02
- Inventor: R·平特 , J·A·J·西杰斯 , J·米尔史蒂夫
- Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- Applicant Address: 荷兰艾恩德霍芬
- Assignee: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- Current Assignee: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- Current Assignee Address: 荷兰艾恩德霍芬
- Agency: 永新专利商标代理有限公司
- Agent 王英; 刘炳胜
- Priority: 07123703.6 2007.12.19 EP
- International Application: PCT/IB2008/055339 2008.12.16
- International Announcement: WO2009/081331 EN 2009.07.02
- Date entered country: 2010-06-17
- Main IPC: A61B5/00
- IPC: A61B5/00 ; A61B5/02 ; A61B5/05 ; A61B5/107 ; A61B5/04
Abstract:
本发明涉及用于测量对象(2)的特性的装置。本发明还涉及对应的方法和对应的计算机程序。该装置包括用于发射电磁波到该对象(2)和/或接收来自该对象(2)的电磁波的天线(3，4)，以测量该对象的特性，其中该天线(3，4)包括用作用于测量该对象的其它特性的电极的导电元件。
Public/Granted literature
- CN101902951A 用于测量对象的特性的装置、方法和计算机程序 Public/Granted day:2010-12-01
Information query
