发明授权
- 专利标题: 用于检测混浊介质内部中不均匀性的存在的方法和用于对混浊介质内部成像的设备
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申请号: CN200880121218.5申请日: 2008-12-11
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公开(公告)号: CN101902952B公开(公告)日: 2014-10-29
- 发明人: G·特胡夫特 , M·B·范德马克
- 申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 申请人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 谢建云; 刘鹏
- 优先权: 07123319.1 2007.12.17 EP
- 国际申请: PCT/IB2008/055226 2008.12.11
- 国际公布: WO2009/077947 EN 2009.06.25
- 进入国家日期: 2010-06-17
- 主分类号: A61B5/00
- IPC分类号: A61B5/00 ; G01N21/49 ; G01N21/64
摘要:
提供了一种用于检测混浊介质(1)内部中不均匀性的存在的方法。该方法包括以下步骤:利用待检查的混浊介质(1)置于用于检查混浊介质内部的设备的接纳容积(2)中,执行第一测量;利用待检查的混浊介质(1)置于用于检查混浊介质内部的设备的接纳容积(2)中,执行第二测量。在第一测量后经过一时间间隔(Δt)之后,执行第二测量。第一测量和第二测量的每一个包括:随后用来自至少一个光源(6)的光从多个不同源位置照射混浊介质(1),并且对于每个源位置,在多个不同检测位置检测从混浊介质发射的光,以及将所检测的值存储为测量结果。该方法进一步包括以下步骤:通过使用第一测量和第二测量之一的测量结果作为参考并且使用第一测量和第二测量的相应另一个的测量结果确定相对于该参考的偏离,来检测混浊介质(1)内部中的不均匀性的存在。
公开/授权文献
- CN101902952A 用于检测混浊介质内部中不均匀性的存在的方法和用于对混浊介质内部成像的设备 公开/授权日:2010-12-01