Invention Grant
- Patent Title: 电容值测量电路与方法
- Patent Title (English): Capacitance measurement circuit and method
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Application No.: CN200910152134.4Application Date: 2009-07-09
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Publication No.: CN101943716BPublication Date: 2012-11-28
- Inventor: 黄赫炜 , 张志远 , 张辉宏
- Applicant: 联咏科技股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾新竹科学园区创新一路1-2号
- Assignee: 联咏科技股份有限公司
- Current Assignee: 联咏科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾新竹科学园区创新一路1-2号
- Agency: 上海专利商标事务所有限公司
- Agent 任永武
- Main IPC: H03K17/96
- IPC: H03K17/96 ; G01R27/26 ; G01R19/00
Abstract:
本发明是一种电容值测量电路与方法,该电容值测量电路包括:一储存电容;一开关电路,耦接至该储存电容、一参考电压与一电压源;一电压检测器,耦接至该储存电容,检测该储存电容的一电压;一开关控制器,耦接至该电压检测器与该开关电路,该开关控制器控制该开关电路;以及一电流源,耦接至该开关电路。该电容值测量方法包括:预充电一储存电容;对该待测电容与该储存电容进行一电荷转移;根据该储存电容的一电压与一参考电压间的关系,将该储存电容放电及充电;以及根据该储存电容的该电压,测量该待测电容的该电容值。
Public/Granted literature
- CN101943716A 电容值测量电路与方法 Public/Granted day:2011-01-12
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IPC分类: