发明授权
CN101952706B 扫描探针显微镜
失效 - 权利终止
- 专利标题: 扫描探针显微镜
- 专利标题(英): Scanning type probe microscope
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申请号: CN200880125506.8申请日: 2008-01-24
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公开(公告)号: CN101952706B公开(公告)日: 2012-08-29
- 发明人: 伊藤武史
- 申请人: 株式会社岛津制作所
- 申请人地址: 日本京都府
- 专利权人: 株式会社岛津制作所
- 当前专利权人: 株式会社岛津制作所
- 当前专利权人地址: 日本京都府
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇; 张会华
- 国际申请: PCT/JP2008/000078 2008.01.24
- 国际公布: WO2009/093284 JA 2009.07.30
- 进入国家日期: 2010-07-23
- 主分类号: G01N13/10
- IPC分类号: G01N13/10
摘要:
本发明提供一种扫描探针显微镜。该扫描探针显微镜为了检测悬臂(4)的位移,利用半透半反镜(20)取出从激光光源(11)射出的光的一部分,并将其导入到具有被分割为4部分的受光面的光检测器(21)中。当由周围温度的变化等导致射出光的射出方向倾斜时,光斑位置在光检测器(21)的受光面上移动,因此,能够根据其移动量和移动方向识别射出方向的倾斜量和倾斜方向。驱动量运算部(22)根据其倾斜量及方向计算驱动量,利用驱动器(23)使激光光源(11)绕Y轴和Z轴发生位移。由此,能够对射出光的射出方向的倾斜进行补偿,防止以为是试样表面的凹凸的误认。
公开/授权文献
- CN101952706A 扫描探针显微镜 公开/授权日:2011-01-19