发明授权
- 专利标题: 用于使图形密度加倍的方法
- 专利标题(英): Method for double pattern density
-
申请号: CN201010237978.1申请日: 2010-07-26
-
公开(公告)号: CN101969024B公开(公告)日: 2013-03-27
- 发明人: 程慷果 , B·B·多里斯 , 古川俊治
- 申请人: 国际商业机器公司
- 申请人地址: 美国纽约
- 专利权人: 国际商业机器公司
- 当前专利权人: 格芯美国第二有限责任公司
- 当前专利权人地址: 美国纽约
- 代理机构: 北京市中咨律师事务所
- 代理商 于静; 杨晓光
- 优先权: 12/509,900 2009.07.27 US
- 主分类号: H01L21/027
- IPC分类号: H01L21/027 ; H01L21/20
摘要:
本发明涉及用于使图形密度加倍的方法。一种方法在主层上沉积未掺杂的硅层,在所述未掺杂的硅层上沉积帽层,构图在所述帽层上的掩蔽层,并将所述未掺杂的硅层构图成硅芯部。该方法在这样的工艺中将杂质引入所述硅芯部的侧壁中,该工艺使所述硅芯部的侧壁部分掺杂有杂质并使所述硅芯部中的至少一些的中心部分未掺杂。该方法去除所述帽层而留下位于所述主层上的所述硅芯部,并执行选择性材料去除工艺,以去除所述硅芯部的所述中心部分并使所述硅芯部的所述侧壁部分留在所述主层上。该方法使用所述硅芯部的所述侧壁部分作为构图掩模而至少构图所述主层,并且去除所述硅芯部的所述侧壁部分以至少留下构图后的所述主层。
公开/授权文献
- CN101969024A 用于使图形密度加倍的方法 公开/授权日:2011-02-09
IPC分类: