同时测量灰分和水分的测量装置
摘要:
本发明提出一种同时测量灰分和水分的测量装置,包括:机箱;放射源和微波发射/接收天线;测量台,所述测量台位于所述放射源和微波发射/接收天线之上;探测器和微波接收/发射天线;微波源,所述微波源接入微波网络,所述微波网络分别与所述微波发射天线和所述微波接收天线相连;和计算机,所述计算机分别于所述探测器和所述微波网络相连,所述计算机根据所述探测器探测的射线衰减信息测量物料的灰分,以及根据射线衰减信息和微波衰减信息测量所述物料的水分。本发明利用γ射线衰减测量技术,扫描测量整个物料样品,得到物料样品的平均质量厚度,并用该质量厚度校正计算样品水分,从而大大提高了水分测量的准确度。
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