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发明授权
CN101981494B 液晶显示面板的异物检测方法以及异物检测装置 失效 - 权利终止

  • 专利标题： 液晶显示面板的异物检测方法以及异物检测装置
  • 专利标题（英）： Method for detecting dust particle of liquid crystal panel and device for detecting dust particle
  • 申请号： CN200980110764.3
    申请日： 2009-02-26
  • 公开(公告)号： CN101981494B
    公开(公告)日： 2012-11-21
  • 发明人: 鹫见一行 , 桥本学 , 井上雅史 , 西村吉弘
  • 申请人： 夏普株式会社
  • 申请人地址： 日本大阪府
  • 专利权人： 夏普株式会社
  • 当前专利权人： 夏普株式会社
  • 当前专利权人地址： 日本大阪府
  • 代理机构： 北京市隆安律师事务所
  • 代理商 权鲜枝
  • 优先权： 2008-079548 2008.03.26 JP; 2008-214906 2008.08.25 JP
  • 国际申请： PCT/JP2009/053511 2009.02.26
  • 国际公布： WO2009/119239 JA 2009.10.01
  • 进入国家日期： 2010-09-26
  • 主分类号： G02F1/13
  • IPC分类号： G02F1/13
液晶显示面板的异物检测方法以及异物检测装置
摘要：
本发明的课题在于提供一种液晶面板的异物检测方法，在混入液晶显示面板的基板间的导电性异物所引起的短路不稳定的情况下，能使其可靠地短路来使导电性异物所引起的显示缺陷显现。本发明的异物检测方法是检测在一对柔性基板(21、26)之间夹有液晶的液晶显示面板(20)的该基板之间有无混入的导电性异物的异物检测方法，使液晶显示面板通过设于液晶显示面板的一个面的支撑液晶显示面板的一对支撑辊(3、3)和设于另一个面的位于支撑辊之间而按压液晶显示面板的按压辊(4)之间，使液晶显示面板发生弯曲，上述基板彼此在面方向上相互错开，由此使混入基板之间的导电性异物所引起的显示缺陷显现。
摘要（英）：

Provided is a method for detecting dust particles of a liquid crystal panel wherein display defect caused by conductive dust particles can be actualized by ensuring short circuit even if short circuit caused by conductive dust particles mixed between the substrates of a liquid crystal panel is unstable. A method for detecting conductive dust particles mixed between a pair of flexible substrates (21, 26) of a liquid crystal panel (20) sandwiching liquid crystal actualizes display defect caused by conductive dust particles mixed between the substrates by passing a liquid crystal panel between apair of supporting rollers (3, 3) provided on one side of the liquid crystal panel in order to support the liquid crystal panel and a press roller (4) located between supporting rollers provided on the other side in order to press the liquid crystal panel so that the liquid crystal panel is bent and the substrates are shifted from each other in plane direction.

公开/授权文献
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