• 专利标题: 计数装置、物理量传感器、计数方法以及物理量测量方法
  • 专利标题(英): Counting device, physical quantity sensor, counting method and physical quantity measuring method
  • 申请号: CN201010246671.8
    申请日: 2010-07-30
  • 公开(公告)号: CN101988851B
    公开(公告)日: 2012-12-12
  • 发明人: 上野达也
  • 申请人: 阿自倍尔株式会社
  • 申请人地址: 日本国东京都千代田区丸之内2丁目7番3号
  • 专利权人: 阿自倍尔株式会社
  • 当前专利权人: 阿自倍尔株式会社
  • 当前专利权人地址: 日本国东京都千代田区丸之内2丁目7番3号
  • 代理机构: 上海市华诚律师事务所
  • 代理商 孙敬国
  • 优先权: 2009-181442 2009.08.04 JP
  • 主分类号: G01H9/00
  • IPC分类号: G01H9/00 G01J11/00 G01J9/00
计数装置、物理量传感器、计数方法以及物理量测量方法
摘要:
一种计数装置、物理量传感器、计数方法以及物理量测量方法,其可以对计数误差进行校正。计数装置(7)对一定的计数期间中的干涉波形的半周期的数量进行计数,对干涉波形的半周期进行测定,基于该测定结果生成计数期间中的干涉波形的半周期的频数分布,再基于该频数分布,计算出干涉波形的半周期的分布的代表值,求出不足代表值的0.5倍的半周期的数量的总和Ns、及在代表值的2n倍以上且不足(2n+2)倍的半周期的数量的总和Nwn,并基于这些频数Ns和Nwn校正计数结果。
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