Invention Grant
- Patent Title: 落射式微分干涉相衬显微镜
- Patent Title (English): Incident differential interference phase contrast microscope
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Application No.: CN201010600324.0Application Date: 2010-12-22
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Publication No.: CN101995649BPublication Date: 2012-08-29
- Inventor: 李弥高 , 黄文勇 , 黄秋翼 , 胡丽娟
- Applicant: 广州粤显光学仪器有限责任公司
- Applicant Address: 广东省广州市越秀区淘金北路81号
- Assignee: 广州粤显光学仪器有限责任公司
- Current Assignee: 广州粤显光学仪器有限责任公司
- Current Assignee Address: 广东省广州市越秀区淘金北路81号
- Agency: 广州新诺专利商标事务所有限公司
- Agent 王振英
- Main IPC: G02B21/14
- IPC: G02B21/14 ; G02B21/18
Abstract:
本发明属于显微镜技术领域,具体的说,涉及一种落射式微分干涉相衬显微镜,其包括观察镜,落射照明器以及微分干涉相衬组件,所述微分干涉相衬组件包括微分干涉棱镜、用于调节微分干涉棱镜前后移动的调节杆以及调节微分干涉棱镜上下高度的调节螺钉,本发明所述的落射式微分干涉相衬显微镜具备明视场正置观察、偏振观察的功能,还可进行微分干涉相衬观察,结构简单,操作方便,可以得到视场均匀、衬度明显的显微图像,可应用于现代电子工业、材料科学研究与制造等领域,实现无损光学检测的要求。
Public/Granted literature
- CN101995649A 落射式微分干涉相衬显微镜 Public/Granted day:2011-03-30
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