- 专利标题: 双能量X射线安全检查设备的材料校准系统及校准方法
- 专利标题(英): Material calibration system and calibration method of dual-energy X ray safety inspection device
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申请号: CN201010531710.9申请日: 2010-11-04
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公开(公告)号: CN102053096A公开(公告)日: 2011-05-11
- 发明人: 张勇 , 霍梅春 , 杨桂文 , 陈力 , 靳树娟 , 张晓宇
- 申请人: 公安部第一研究所 , 北京中盾安民分析技术有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区首都体育馆南路1号(46号分箱)
- 专利权人: 公安部第一研究所,北京中盾安民分析技术有限公司
- 当前专利权人: 公安部第一研究所,北京中盾安民分析技术有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区首都体育馆南路1号(46号分箱)
- 代理机构: 北京中海智圣知识产权代理有限公司
- 代理商 杨树芬
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04
摘要:
本发明属于安全检查领域,提供一种双能量X射线安全检查设备的材料校准系统及校准方法,所述系统包括依次连接的:材料测试箱、图像采集模块、自动校准模块、训练校准模块及材料表生成模块。所述图像采集模块采集材料测试箱图像,然后通过自动校准模块对图像进行分析,提取图像中有机玻璃、硬铝和低碳钢不同厚度的高低能数据,由材料表生成模块自动生成材料表,调试人员检查双能量X射线安全检查系统材料分辨能力是否满足指标,满足则输出材料表,不满足则进入训练校准模块,通过训练校准模块调整自动校准曲线上的个别点上下移动,并生成材料表。本发明实现了材料自动校准,并通过训练校准功能进行辅助,大大提高了现有产品的技术指标。
公开/授权文献
- CN102053096B 双能量X射线安全检查设备的材料校准系统及校准方法 公开/授权日:2013-02-13