发明授权
CN102053247B 一种多基线合成孔径雷达三维成像的相位校正方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种多基线合成孔径雷达三维成像的相位校正方法
- 专利标题(英): Phase correction method for three-dimensional imaging of multi-base line synthetic aperture radar
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申请号: CN200910236713.7申请日: 2009-10-28
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公开(公告)号: CN102053247B公开(公告)日: 2013-03-27
- 发明人: 洪文 , 王斌 , 谭维贤 , 王彦平 , 吴一戎
- 申请人: 中国科学院电子学研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区北四环西路19号
- 专利权人: 中国科学院电子学研究所
- 当前专利权人: 中国科学院电子学研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区北四环西路19号
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 周国城
- 主分类号: G01S13/90
- IPC分类号: G01S13/90 ; G01S7/40
摘要:
一种多基线合成孔径雷达三维成像的相位校正方法,涉及三维成像技术,它根据机载或星载多基线合成孔径雷达数据获取成像几何,得参考轨迹观测视角,并由各轨迹空间位置拟合出各轨迹沿直线排列的方向,得多基线模式下基线倾角;在拟合的排列方向上得虚拟轨迹位置,并根据其与真实轨迹位置之间距离差,对每条轨迹获取数据进行轨迹位置移动的相位补偿;通过信号建模得与参考视角、基线倾角、相对基线距离等参数相关的相位校正因子;各轨迹获取的数据用该相位因子进行相位校正,然后利用空间谱估计技术进行目标高程成像,并利用每条轨迹的目标二维图像,实现对目标的三维成像。本发明能进行更精确的相位校正处理,从而有利于实现高分辨率的三维成像。
公开/授权文献
- CN102053247A 一种多基线合成孔径雷达三维成像的相位校正方法 公开/授权日:2011-05-11