发明授权
- 专利标题: 光学测量构件以及用于执行反射测量的方法
- 专利标题(英): Optical measuring unit and method for carrying out a reflective measurement
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申请号: CN200980122936.9申请日: 2009-06-17
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公开(公告)号: CN102066909B公开(公告)日: 2013-07-10
- 发明人: K·昆什塔尔
- 申请人: 电子慕泽雷帕里公司
- 申请人地址: 匈牙利布达佩斯
- 专利权人: 电子慕泽雷帕里公司
- 当前专利权人: 电子慕泽雷帕里公司
- 当前专利权人地址: 匈牙利布达佩斯
- 代理机构: 北京北翔知识产权代理有限公司
- 代理商 杨勇; 郑建晖
- 优先权: P0800386 2008.06.20 HU; P0900350 2009.06.09 HU
- 国际申请: PCT/HU2009/000051 2009.06.17
- 国际公布: WO2009/153609 EN 2009.12.23
- 进入国家日期: 2010-12-17
- 主分类号: G01N21/47
- IPC分类号: G01N21/47 ; G01N21/86 ; G01N21/27
摘要:
本发明是一种用于执行反射测量的光学测量构件(10),包括:光源(11),适合于照射待测表面;测量传感器(12a、12b),用于检测由待测表面所反射的光;以及,光阻光学元件(13),其将测量传感器(12a、12b)与光源(11)的直射光分隔开,且具有内部空间,该内部空间包括从光源(11)延伸至待测表面的直的中心线光管(14)。光阻光学元件(13)的内部空间包括背阴空间(19),该背阴空间从光管(14)的中心线延伸得比光管(14)远,且其中布置有监测传感器(15),该监测传感器(15)受光源(11)的直射光的一部分照射,且使得能够对光源(11)的光辐射的变化进行补偿。另一方面,本发明是一种通过光学测量构件(10)执行反射测量的方法。
公开/授权文献
- CN102066909A 光学测量构件以及用于执行反射测量的方法 公开/授权日:2011-05-18