发明授权
- 专利标题： 时钟转换电路以及使用其的试验装置
- 专利标题（英）： Clock transfer circuit and tester using the same
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申请号： CN200880130172.3申请日： 2008-07-25
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公开(公告)号： CN102077505B公开(公告)日： 2014-01-15
- 发明人: 藤部亮 , 须田昌克
- 申请人： 株式会社爱德万测试
- 申请人地址： 日本东京
- 专利权人： 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人： 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人地址： 日本东京
- 代理机构： 北京同达信恒知识产权代理有限公司
- 代理商 黄志华; 钟锦舜
- 国际申请： PCT/JP2008/001995 2008.07.25
- 国际公布： WO2010/010603 JA 2010.01.28
- 进入国家日期： 2010-12-30
- 主分类号： H04L7/00
- IPC分类号： H04L7/00
摘要：
第二锁存器(24)利用具有与第一时钟(CK1)相同的频率的第三时钟(CK3)锁存第一锁存器(22)的输出数据(Dm1)。第三锁存器(26)利用具有第一时钟(CK1)以及第三时钟(CK3)的N倍(N为自然数)的频率的第二时钟(CK2)锁存第二锁存器(24)的输出数据(Dm2)。第二时钟(CK2)和第三时钟(CK3)处于分频/倍增关系。
公开/授权文献
- CN102077505A 时钟转换电路以及使用其的试验装置 公开/授权日：2011-05-25
