Invention Grant
- Patent Title: 一种SOC的功能测试系统
- Patent Title (English): Function test system for SOC
-
Application No.: CN201010574415.1Application Date: 2010-12-06
-
Publication No.: CN102103534BPublication Date: 2012-08-29
- Inventor: 刘梅英 , 周敏心 , 薛志明
- Applicant: 福州瑞芯微电子有限公司
- Applicant Address: 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
- Assignee: 福州瑞芯微电子有限公司
- Current Assignee: 瑞芯微电子股份有限公司
- Current Assignee Address: 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
- Agency: 福州市鼓楼区京华专利事务所
- Agent 翁素华
- Main IPC: G06F11/22
- IPC: G06F11/22
Abstract:
本发明提供一种SOC的功能测试系统,包括测试机台以及受控于测试机台用于测试待测芯片的机械手;还包括测试子板、设置有液晶显示屏的测试主板,所述测试主板控制测试机台工作和机械手工作,所述测试子板经串口协议将当前测试项目的状态信息以及测试结果信息传给测试主板,所述测试状态信息及测试结果信息均包括打印信息和测试项信息;所述的串口协议中以#字符开头,*字符结束表示测试项信息,不以#字符开头的表示调试打印信息;所述测试主板将芯片的最后测试结果信息通过所述机械手的测试接口发送给机械手,机械手进行芯片测试结束情况的统计。本发明可以支持人工手动测试,也支持机械手控制测试,测试效率高,测试成本低。
Public/Granted literature
- CN102103534A 一种SOC的功能测试系统 Public/Granted day:2011-06-22
Information query