本发明涉及一种芯片电压的测试系统和测试方法，所述的系统包括连接外部电源的取样电阻模块、测试模式选择控制寄存器、判断门限电压选择控制寄存器、待检测电压选通控制寄存器、比较器模块、数字采样处理模块，通过选通不同的判断门限电压(即参考电压)可以对芯片的不同电压信号进行检测和比较，再根据输出的比较结果判定待检测的芯片是否符合要求。进一步地，可以在本发明中增加一些控制逻辑模块对待测的芯片进行修整，以使芯片符合要求。本发明的方案可以在不增加测试焊盘的前提下，完成对芯片内部电压信号(包括敏感电压信号)的检测，节省芯片面积，适合自动化测试，且创造性地解决了当前部分检测电路复杂，耗时且成本高的问题，适于推广适用。