发明授权
- 专利标题: 自动分析装置及检测体处理系统
- 专利标题(英): Automatic analysis device and specimen processing system
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申请号: CN200980132370.8申请日: 2009-08-28
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公开(公告)号: CN102124348B公开(公告)日: 2013-11-13
- 发明人: 时枝仁 , 高木由充 , 圷正志 , 佐川彰太郎
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 张敬强; 武也平
- 优先权: 2008-235848 2008.09.16 JP
- 国际申请: PCT/JP2009/065453 2009.08.28
- 国际公布: WO2010/032628 JA 2010.03.25
- 进入国家日期: 2011-02-18
- 主分类号: G01N35/02
- IPC分类号: G01N35/02 ; G01N35/04
摘要:
本发明提供一种自动分析装置及检测体处理系统。在具有一台以上的功能模块和分别与上述功能模块成对地组合的缓冲单元的检测体处理系统中,在装置由于故障而停止的情况下,由于在缓冲器内保持了多个检测体架,因此在重新起动处理时的架容纳方面需要大量时间。另外,在系统结构中存在多个缓冲单元的情况下,根据缓冲单元数,重新起动时间倍增。在各缓冲单元上设置检测体架ID读取元件,重新起动时在缓冲单元内进行缓冲单元内的检测体架的ID读取,根据读取的信息在控制部中进行各检测体架的搬运目的地的查询。之后,根据来自控制部的搬运目的地指示,以缓冲单元为起点重新开始进行检测体的处理。
公开/授权文献
- CN102124348A 自动分析装置及检测体处理系统 公开/授权日:2011-07-13