Invention Grant
- Patent Title: 一种检定仪的自校准方法
- Patent Title (English): Self-calibration method of calibration instrument
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Application No.: CN201010618467.4Application Date: 2010-12-31
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Publication No.: CN102128647BPublication Date: 2012-08-29
- Inventor: 陈丽君 , 王凯 , 熊远昌 , 张磊 , 张合纯
- Applicant: 浙江中控自动化仪表有限公司
- Applicant Address: 浙江省杭州市滨江区六和路309号D区三层(高新园)
- Assignee: 浙江中控自动化仪表有限公司
- Current Assignee: 浙江中控自动化仪表有限公司
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市滨江区六和路309号D区三层(高新园)
- Agency: 上海汉声知识产权代理有限公司
- Agent 胡晶
- Main IPC: G01D18/00
- IPC: G01D18/00
Abstract:
本发明公开了一种检定仪的自校准方法,其包括下列步骤:1)在具有测量单元和输出单元的检定仪上设置控制单元和自校准单元,控制单元与自校准单元连接;自校准单元包括切换开关单元,所述切换开关单元分别与测量单元和输出单元连接;2)控制单元设定上述检定仪进行自校准的时间间隔;3)当上述检定仪开机或自校准的时间间隔到了后,控制单元控制自校准单元使其自动进行测量自校准;4)采用经过校准的测量作为基准,控制单元控制自校准单元使其自动进行输出自校准。与现有技术相比,本发明解决了检定仪需要人工操作进行自校准,且所述检定仪的精度会受时间、环境变化影响的技术问题。
Public/Granted literature
- CN102128647A 一种检定仪的自校准方法 Public/Granted day:2011-07-20
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