Invention Publication
CN102136678A 半导体装置的制造方法
无效 - 驳回
- Patent Title: 半导体装置的制造方法
- Patent Title (English): Method for manufacturing a semiconductor device
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Application No.: CN201010502122.2Application Date: 2010-09-30
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Publication No.: CN102136678APublication Date: 2011-07-27
- Inventor: 广中美佐夫 , 西口晴美 , 藏本恭介 , 楠政谕
- Applicant: 三菱电机株式会社
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 三菱电机株式会社
- Current Assignee: 三菱电机株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 闫小龙; 徐予红
- Priority: 2010-012257 2010.01.22 JP
- Main IPC: H01S5/20
- IPC: H01S5/20

Abstract:
本发明涉及半导体装置的制造方法。通过在n型GaN衬底(10)上形成半导体层叠结构(12),从而形成具有多个半导体激光器(14)的晶片(16)。接着,在半导体激光器(14)间的分离区域(18)中,在晶片(16)的主面形成第1槽部(22)。接着,将晶片(16)分离为半导体激光器14排列为棒状的激光棒(26)。接着,在激光棒(26)的第1槽部(22)内,形成具有与第1槽部(22)相同或较窄的宽度的第2槽部(30)。接着,沿着第2槽部(30)将激光棒(26)分离为各个半导体激光器(14)。
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