发明授权
- 专利标题: 采用0阶近似快速测量氡浓度的方法
- 专利标题(英): Method for rapidly measuring radon concentration by zero-order approximation
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申请号: CN201010607821.3申请日: 2010-12-28
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公开(公告)号: CN102141527B公开(公告)日: 2012-11-14
- 发明人: 谭延亮
- 申请人: 衡阳师范学院
- 申请人地址: 湖南省衡阳市黄白路165号
- 专利权人: 衡阳师范学院
- 当前专利权人: 衡阳师范学院
- 当前专利权人地址: 湖南省衡阳市黄白路165号
- 代理机构: 衡阳市科航专利事务所
- 代理商 邹小强
- 主分类号: G01N23/00
- IPC分类号: G01N23/00 ; G01T1/167 ; G01T7/06
摘要:
一种采用0阶近似快速测量氡浓度的方法,它包括测量和计算。先将测氡仪器工作于刻度模式下,在标准氡室中利用较长时间的218Po峰的计数反推氡浓度,得到刻度因子,这样其相当于一台工作于sniff模式的RAD7测氡仪器;再将氡测量装置切换到0阶近似模式,设置好测量周期和循环次数,开启测氡仪器后,外界的空气通过一个高效过滤器过滤氡子体后被连续抽入测量室内,然后再排出到外界;测量室内的氡衰变产生新的子体218Po在强电场作用下就被吸附到半导体探测器表面,218Po进一步衰变释放的高能α粒子产生的电信号通过能量识别后计数,就可得到218Po的浓度,从而得到氡浓度;测量得到的氡浓度数据,再运用具体算法计算,就能快速测量氡浓度变化。
公开/授权文献
- CN102141527A 采用0阶近似快速测量氡浓度的方法 公开/授权日:2011-08-03