发明授权
CN102177420B 利用微波工作的物位测量设备
失效 - 权利终止
- 专利标题: 利用微波工作的物位测量设备
- 专利标题(英): Filling level measuring device operating with microwaves
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申请号: CN200980140313.4申请日: 2009-08-12
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公开(公告)号: CN102177420B公开(公告)日: 2013-02-13
- 发明人: 彼得·克勒费尔 , 温弗里德·迈尔
- 申请人: 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
- 申请人地址: 德国毛尔堡
- 专利权人: 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
- 当前专利权人: 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
- 当前专利权人地址: 德国毛尔堡
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 邹璐; 樊卫民
- 优先权: 102008050329.0 2008.10.10 DE
- 国际申请: PCT/EP2009/060404 2009.08.12
- 国际公布: WO2010/040580 DE 2010.04.15
- 进入国家日期: 2011-04-11
- 主分类号: G01F23/284
- IPC分类号: G01F23/284
摘要:
介绍了一种利用微波根据渡越时间原理进行工作的物位测量设备,该物位测量设备用于测量处于容器(3)中的填注物(5)的物位,该物位测量设备在多个不同的信号路径上将微波信号(SM、SN、SL)发射到容器(3)中,并且可以接收该微波信号所属的回波信号(EM、EN、EL),并且可以将在不同的信号路径上得到的测量结果彼此分离地进行评估,该物位测量设备具有测量设备电子装置(7)、用于连续地产生具有不同的使用频率(fm、fn、fl)的微波信号(SM、SN、SL)的微波发生器(9)以及连接在该测量设备电子装置上的频率选择性的无源的天线装置(11a、11b、11c、11d、11e),该天线装置具有多个天线,这些天线用于将不同的微波信号(SM、SN、SL)相继地发射到容器(3)中并且接收这些微波信号反射回到天线装置(11a、11b、11c、11d、11e)的回波信号(EM、EN、EL),该天线装置具有多个用于让不同的使用频率(fm、fn、fl)中的一个通过的频率选择元件(FM、FN、FL),尤其是带通滤波器,在该频率选择元件中通过天线和频率选择元件(EM、EN、EL)为不同的微波信号(SM、SN、SL)中的每一个和该微波信号的回波信号(EM、EN、EL)预定唯一分配的信号路径,通过该信号路径将微波信号发射到容器中,并接收该微波信号的反射回到天线装置(SM、SN、SL)的回波信号(EM、EN、EL),并导入到测量设备电子装置(7),并且该物位测量设备具有设置在该测量设备电子装置(7)中的机构(21),该机构将相继输入的回波信号(EM、EN)分配给所属的信号路径。
公开/授权文献
- CN102177420A 利用微波工作的物位测量设备 公开/授权日:2011-09-07