发明公开
CN102207534A 利用pn结测量LED热阻的方法及其装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 利用pn结测量LED热阻的方法及其装置
- 专利标题(英): Method and device for measuring thermal resistance of light emitting diode (LED) by pn junction
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申请号: CN201110066983.5申请日: 2011-03-18
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公开(公告)号: CN102207534A公开(公告)日: 2011-10-05
- 发明人: 孙慧卿 , 郭志友 , 韩世洋 , 许轶 , 黄鸿勇 , 严卫聪 , 解晓宇 , 王度阳
- 申请人: 华南师范大学
- 申请人地址: 广东省广州市天河区石牌中山大道西55号
- 专利权人: 华南师范大学
- 当前专利权人: 华南师范大学
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区石牌中山大道西55号
- 代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理商 何淑珍; 廖继海
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26
摘要:
本发明公开了一种利用pn结测量LED热阻的方法及其装置。利用pn结测量LED热阻的方法,所述LED为大功率LED,其特征在于:在大功率LED中,包括一个用于测量大功率LED的芯的温度的肖特基二极管,肖特基二极管与大功率LED同在一个器件中;大功率LED组装成灯具时,利用热电偶测量散热板的温度,利用肖特基二极管测量大功率LED的芯的温度,然后通过分析计算获得灯具的温度分布及LED热阻。本发明可用于精确测量LED热阻。
公开/授权文献
- CN102207534B 利用pn结测量LED热阻的方法及其装置 公开/授权日:2013-04-17