发明公开
- 专利标题: 内埋式半导体封装件及其制作方法
- 专利标题(英): Built-in type semiconductor package and manufacturing method thereof
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申请号: CN201110139369.7申请日: 2011-05-27
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公开(公告)号: CN102214626A公开(公告)日: 2011-10-12
- 发明人: 李俊哲 , 苏洹漳 , 李明锦 , 黄士辅
- 申请人: 日月光半导体制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾高雄市
- 专利权人: 日月光半导体制造股份有限公司
- 当前专利权人: 日月光半导体制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾高雄市
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 彭久云
- 优先权: 12/972,046 2010.12.17 US
- 主分类号: H01L23/485
- IPC分类号: H01L23/485 ; H01L23/498 ; H01L25/00 ; H01L21/768 ; H01L21/60
摘要:
本发明公开一种内埋式半导体封装件及其制作方法,该半导体封装件包括具有电性接点的半导体元件、上方图案化导电层、介于上方图案化导电层与半导体元件之间的介电层、第一内层电性连接层、下方图案化导电层、导通孔以及第二内层电性连接层。介电层具有暴露出电性接点的第一开口以及从下方图案化导电层延伸至上方图案化导电层的第二开口。第一内层电性连接层从电性接点延伸至上方图案化导电层且填充于第一开口中。第二开口具有暴露出上方图案化导电层的上部分以及暴露出下方图案化导电层的下部分。导通孔位于第二开口的下部分。第二内层电性连接层填充于第二开口的上部分。
公开/授权文献
- CN102214626B 内埋式半导体封装件及其制作方法 公开/授权日:2014-09-17
IPC分类: