发明公开
- 专利标题: 一种四元化合物分子束外延组分控制参数设计的方法
- 专利标题(英): Method for designing control parameters of quaternary compound molecular beam epitaxy component
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申请号: CN201110126889.4申请日: 2011-05-17
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公开(公告)号: CN102226295A公开(公告)日: 2011-10-26
- 发明人: 顾溢 , 张永刚 , 王凯
- 申请人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 申请人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 代理机构: 上海泰能知识产权代理事务所
- 代理商 黄志达; 谢文凯
- 主分类号: C30B25/02
- IPC分类号: C30B25/02 ; C30B29/40
摘要:
本发明涉及一种四元化合物分子束外延组分控制参数设计的方法,包括:(1)利用标定生长试验获得四元化合物材料组分与束源束流强度的关系式;(2)根据组分与束源束流强度的关系来设计生长所需组分材料的生长参数。本发明为分子束外延生长四元化合物半导体的组分调节提供了依据,方便地设计生长参数,实现对包含三种同族元素的四元化合物半导体组分的精确控制,提高新组分外延材料生长的效率。本发明适合于不同的材料体系,具有很好的通用性。