Invention Grant
- Patent Title: 一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置及方法
- Patent Title (English): Device and method for testing running-in and aging of motor for instrument based on field programmable gate array (FPGA)
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Application No.: CN201110167766.5Application Date: 2011-06-21
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Publication No.: CN102253339BPublication Date: 2013-05-15
- Inventor: 陈迅 , 俞孟蕻 , 李绍鹏 , 朱志宇 , 杨海兴
- Applicant: 江苏科技大学
- Applicant Address: 江苏省镇江市梦溪路2号
- Assignee: 江苏科技大学
- Current Assignee: 江苏科技大学
- Current Assignee Address: 江苏省镇江市梦溪路2号
- Agency: 南京经纬专利商标代理有限公司
- Agent 楼高潮
- Main IPC: G01R31/34
- IPC: G01R31/34
Abstract:
本发明公布了一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置及方法，该装置由核心控制单元、键盘及显示单元、FPGA配置存储器单元、FPGA扩展存储器单元、十个电机驱动单元和十个测试接插板构成；所述方法如下：核心控制单元产生驱动仪表电机转动的驱动信号，经过电机驱动单元对信号进行功率放大后，通过电机测试接插板驱动仪表电机。本发明具有对一千只仪表电机进行磨合老化测试的能力，同时具备成本低，结构简单，维修简便等优点。
Public/Granted literature
- CN102253339A 一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置及方法 Public/Granted day:2011-11-23
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