发明授权
- 专利标题: 自动分析装置
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申请号: CN200980152814.4申请日: 2009-12-04
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公开(公告)号: CN102265164B公开(公告)日: 2014-10-08
- 发明人: 山泽和方 , 田中佳幸 , 坂诘卓
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 张敬强; 李家浩
- 优先权: 2008-331828 2008.12.26 JP
- 国际申请: PCT/JP2009/006614 2009.12.04
- 国际公布: WO2010/073504 JA 2010.07.01
- 进入国家日期: 2011-06-27
- 主分类号: G01N35/00
- IPC分类号: G01N35/00 ; G01N35/04
摘要:
本发明提供可用一个自动分析装置,是逐次并行地进行多个不同的测量顺序,并且具有避免机构设备的重复使用和动作干涉的功能,还具有多个用于向该机构设备输送反应容器的输送机构的动作方式且通过根据需要进行替换来将处理能力的下降抑制到最小限度的自动分析装置。在所请求的检查项目的测量顺序开始前进行机构设备使用状况的检查,在判断为使用时间重叠的情况下,通过将该检查项目的测量开始进行延迟,避免重复,可进行正确分析。此外,在存在多个检查项目请求的情况下,通过采用优先开始不发生设备的使用重复的逻辑,可进行高效的分析。
公开/授权文献
- CN102265164A 自动分析装置 公开/授权日:2011-11-30