发明授权
CN102279189B 缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法
- 专利标题(英): Defect detecting device, defect restoring device and defect detecting method
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申请号: CN201110072153.3申请日: 2011-03-16
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公开(公告)号: CN102279189B公开(公告)日: 2013-12-11
- 发明人: 山本修平 , 中西秀信 , 植木章太
- 申请人: 夏普株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府
- 专利权人: 夏普株式会社
- 当前专利权人: 夏普株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 张鑫
- 优先权: 2010-060288 2010.03.17 JP
- 主分类号: G01N21/88
- IPC分类号: G01N21/88 ; G02F1/13
摘要:
本发明公开一种缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法。本发明提供即使在缺陷包含多种颜色的图像元素的情况下、也能根据所包含的颜色的比例以适当基准进行判断的缺陷检测装置。该缺陷检测装置包括:拍摄显示面板并获取作为图像数据的拍摄部;从图像数据提取缺陷部位候选的缺陷部位检测部;确定关于缺陷部位候选的对象物的图像元素的颜色的颜色确定部;及对对比度值乘以根据颜色不同而不同的修正系数以计算出缺陷度、并在缺陷度大于判定值的情况下判定为缺陷的好坏判定部,好坏判定部在一个缺陷部位候选包含多种颜色的图像元素的情况下,对每一颜色的对比度值乘以根据颜色不同而不同的修正系数之后进行总计以计算出缺陷度。
公开/授权文献
- CN102279189A 缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 公开/授权日:2011-12-14