发明授权
CN102301252B 用于组件的电位隔离的功能检查
失效 - 权利终止
- 专利标题： 用于组件的电位隔离的功能检查
- 专利标题（英）： Galvanically isolated functional test for components
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申请号： CN201080006239.X申请日： 2010-01-13
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公开(公告)号： CN102301252B公开(公告)日： 2015-04-29
- 发明人: T.科玛 , K.克里格尔 , J.拉克勒斯 , S.休丁格 , G.斯佩格尔伯格
- 申请人： 西门子公司
- 申请人地址： 德国慕尼黑
- 专利权人： 西门子公司
- 当前专利权人： 西门子公司
- 当前专利权人地址： 德国慕尼黑
- 代理机构： 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 谢强
- 优先权： 102009006970.4 2009.02.02 DE
- 国际申请： PCT/EP2010/050347 2010.01.13
- 国际公布： WO2010/086226 DE 2010.08.05
- 进入国家日期： 2011-08-02
- 主分类号： G01R31/40
- IPC分类号： G01R31/40 ; G01R31/327 ; G01R31/27
摘要：
对于半导体组件(31)提供了一种用于功能检查的方法和电路。功能检查通过使用变压器(33)电位隔离地进行。所述检查本身基于对电容器和电感器的串联电路(44)与半导体组件本身的、取决于频率的阻抗的确定。该阻抗受到半导体组件的传导状态的强烈影响，即，受到其瞬时的导通性或截止性影响。
公开/授权文献
- CN102301252A 用于组件的电位隔离的功能检查 公开/授权日：2011-12-28
