Invention Grant
CN102322957B 一种干涉型高光谱成像仪的光谱漂移检测方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种干涉型高光谱成像仪的光谱漂移检测方法
- Patent Title (English): Spectrum drifting detection method for interference type hyperspectral imager
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Application No.: CN201110194801.2Application Date: 2011-07-12
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Publication No.: CN102322957BPublication Date: 2013-03-20
- Inventor: 王爱春 , 傅俏燕 , 闵祥军 , 潘志强 , 康倩 , 林军
- Applicant: 中国资源卫星应用中心
- Applicant Address: 北京市海淀区永丰产业基地丰贤东路5号
- Assignee: 中国资源卫星应用中心
- Current Assignee: 中国资源卫星应用中心
- Current Assignee Address: 北京市海淀区永丰产业基地丰贤东路5号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 庞静
- Main IPC: G01J3/45
- IPC: G01J3/45

Abstract:
一种干涉型高光谱成像仪的光谱漂移检测方法,(1)将该高光谱成像仪光谱数据转化为各波段入瞳处辐亮度,作为待检验光谱辐亮度;(2)获得卫星高度的入瞳处辐亮度;(3)通过高光谱成像仪响应函数得到各波段入瞳处辐亮度,作为参考光谱辐亮度;(4)比对待检验光谱辐亮度与参考光谱辐亮度在大气吸收峰的位置,通过判断函数确定待检验光谱辐亮度与参考光谱辐亮度的偏移量是否达到约束条件,如果达到转步骤(5);否则调整高光谱成像仪响应函数中波长和带宽的调整量,从步骤(3)开始循环判断;(5)将满足约束条件时确定的高光谱成像仪光谱漂移量,对高光谱成像仪干涉数据重新进行傅立叶逆变换得到高光谱成像仪去除光谱漂移后的光谱数据图。
Public/Granted literature
- CN102322957A 一种干涉型高光谱成像仪的光谱漂移检测方法 Public/Granted day:2012-01-18
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