Invention Publication
- Patent Title: 一种利用超晶格结构材料制备的高质量SGOI及其制备方法
- Patent Title (English): High-quality SGOI (SiGe-on insulator) produced by utilizing material with superlattice structure and production method of high-quality SGOI
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Application No.: CN201110324597.1Application Date: 2011-10-24
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Publication No.: CN102347267APublication Date: 2012-02-08
- Inventor: 张苗 , 陈达 , 狄增峰 , 母志强 , 王刚
- Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Applicant Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 李仪萍
- Main IPC: H01L21/762
- IPC: H01L21/762 ; H01L29/10

Abstract:
本发明提供一种利用超晶格结构材料制备的高质量SGOI及其制备方法,首先在一衬底上按周期交替生长Ge层(Si层)与Si1-xGex层形成超晶格结构,然后再低温生长Si1-mGem材料,控制此外延层的厚度,使其小于临界厚度。紧接着对样品进行退火或离子注入加退火处理,使顶层的Si1-mGem材料弛豫。最后采用智能剥离的方法将顶层的Si1-mGem及超晶格结构转移到SiO2/Si结构的支撑材料上,形成多层材料。使用研磨或CMP的方法制备高质量的SGOI。由此,利用超晶格结构材料,我们制备出高质量、低成本、低缺陷、厚度可控的SGOI。
Public/Granted literature
- CN102347267B 一种利用超晶格结构材料制备的高质量SGOI及其制备方法 Public/Granted day:2013-06-19
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