- 专利标题: 用于数字式测力传感器的温度补偿测试的装置和方法
- 专利标题(英): Device and method for temperature compensation testing of digital load cells
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申请号: CN201080014262.3申请日: 2010-04-05
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公开(公告)号: CN102365541B公开(公告)日: 2014-02-19
- 发明人: D·雷伯 , U·洛尔 , A·斯基德莫尔
- 申请人: 梅特勒-托利多有限责任公司
- 申请人地址: 美国俄亥俄州
- 专利权人: 梅特勒-托利多有限责任公司
- 当前专利权人: 梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司
- 当前专利权人地址: 美国俄亥俄州
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 蔡胜利
- 优先权: 12/418,078 2009.04.03 US
- 国际申请: PCT/US2010/029965 2010.04.05
- 国际公布: WO2010/115193 EN 2010.10.07
- 进入国家日期: 2011-09-28
- 主分类号: G01L25/00
- IPC分类号: G01L25/00 ; G01G23/01
摘要:
一种用于实现数字式测力传感器的温度补偿测试的装置和方法。本装置利用传导式热传递用于在测试过程中建立和保持测力传感器的温度。本装置可以包括被测试的一个或多个测力传感器被放置于其内的容器。测力传感器的温度控制可以通过使温度控制的流体循环通过容器而实现。然后,将包含所述一个或多个测力传感器的容器放置于加载装置内,在测试过程中加载装置在所述一个或多个测力传感器上施加负载。来自所述一个或多个测力传感器的读数被用于建立每个被测试的测力传感器的温度补偿系数。在其它实施例中,测力传感器的温度控制可以通过使测力传感器与固体传热元件接触而实现。
公开/授权文献
- CN102365541A 用于数字式测力传感器的温度补偿测试的装置和方法 公开/授权日:2012-02-29