Invention Grant
- Patent Title: 面阵探测器光谱响应度测试方法
- Patent Title (English): Spectral responsivity test method for plane array detector
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Application No.: CN201110285772.0Application Date: 2011-09-23
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Publication No.: CN102384841BPublication Date: 2013-11-13
- Inventor: 李燕 , 占春连 , 李正琪 , 卢飞 , 陈超 , 王艳
- Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号
- Assignee: 中国兵器工业第二〇五研究所
- Current Assignee: 中国兵器工业第二〇五研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号
- Agency: 陕西电子工业专利中心
- Agent 赵振红
- Main IPC: G01M11/02
- IPC: G01M11/02
Abstract:
本发明公开了一种面阵探测器光谱响应度测试方法，属于光学测试与计量领域。该方法在单元探测器光谱响应度测试方法的基础上，对面阵探测器中心像元的光谱响应度进行测试，结合面阵探测器空间均匀性的测量，实现了对面阵探测器在整个光敏面全波段光谱响应度的准确测试。该测试方法解决了目前面阵探测器光谱响应度测量的难题，填补了面阵探测器光谱响应度测量领域的空白，并具有资源共享，节约成本，测量效率高的特点。
Public/Granted literature
- CN102384841A 面阵探测器光谱响应度测试方法 Public/Granted day:2012-03-21
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