发明授权
CN102460067B 用于高原子数材料的自动快速检测的系统和方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 用于高原子数材料的自动快速检测的系统和方法
- 专利标题（英）： Systems and methods for automated, rapid detection of high-atomic-number materials
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申请号： CN201080031948.3申请日： 2010-05-16
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公开(公告)号： CN102460067B公开(公告)日： 2015-02-25
- 发明人: 小罗伯特.A.阿米斯泰德 , J.A.布朗 , W.Z.常 , E.D.弗朗科 , J.本达汉
- 申请人： 拉皮斯坎系统股份有限公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 拉皮斯坎系统股份有限公司
- 当前专利权人： 拉皮斯坎系统股份有限公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 邸万奎
- 优先权： 61/178,945 2009.05.16 US
- 国际申请： PCT/US2010/035048 2010.05.16
- 国际公布： WO2011/142768 EN 2011.11.17
- 进入国家日期： 2012-01-16
- 主分类号： G01B15/02
- IPC分类号： G01B15/02
摘要：
本发明贯注于一种检查系统，包括：辐射源、检测器阵列、检查范围和处理单元，其中所述处理单元：a)获得射线照相图像；b)基于辐射衰减或透射分割所述射线照相图像；c)在所述射线照相图像上识别至少一个分割区域；d)使用至少一个几何滤波器对所述至少一个分割区域滤波；e)使用所滤波的分割区域生成特征矢量；以及f)将所述特征矢量与预定值进行比较，以确定是否存在高原子数的对象。
公开/授权文献
- CN102460067A 用于高原子数材料的自动快速检测的系统和方法 公开/授权日：2012-05-16