Invention Grant
- Patent Title: 金属栅电极的制作方法
- Patent Title (English): Method for making metal gate electrode
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Application No.: CN201010553697.7Application Date: 2010-11-19
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Publication No.: CN102468151BPublication Date: 2014-07-02
- Inventor: 倪景华 , 吕伟 , 刘武平 , 三重野文健
- Applicant: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 , 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Current Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 骆苏华
- Main IPC: H01L21/28
- IPC: H01L21/28 ; H01L21/205 ; H01L21/283

Abstract:
本发明提供了一种金属栅电极的制作方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底表面形成介电层,在所述介电层的表面形成伪栅;采用选择性外延工艺在伪栅表面形成外延层;所述外延层在伪栅顶部边缘处形成外延突起,并具有外倾的侧表面;在所述外延层的侧表面形成绝缘侧壁;在伪栅两侧的半导体衬底内进行离子注入形成源、漏极;在上述半导体结构的表面形成层间介质层,并平坦化所述层间介质层的表面,直至露出伪栅顶部的外延层;去除所述伪栅及其表面的外延层,形成栅极开口;填充所述栅极开口形成金属栅电极。本发明有效避免了填充形成金属栅电极产生空洞的问题。
Public/Granted literature
- CN102468151A 金属栅电极的制作方法 Public/Granted day:2012-05-23
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