发明授权
- 专利标题： 高功率激光远场焦斑测试用纹影器件
- 专利标题（英）： Schlieren device used for test on high power laser far-field focal spot
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申请号： CN201010568941.7申请日： 2010-12-01
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公开(公告)号： CN102486405B公开(公告)日： 2014-03-26
- 发明人: 达争尚 , 李红光 , 董晓娜 , 孙策
- 申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址： 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构： 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 商宇科
- 主分类号： G01J1/04
- IPC分类号： G01J1/04
摘要：
本发明涉及一种高功率激光远场焦斑测试用纹影器件，包括挡光片以及设置于挡光片外部的透光罩。本发明提供了一种挡光效果好，耐激光辐照以及不会对测量造成任何影响的高功率激光远场焦斑测试用纹影器件。
公开/授权文献
- CN102486405A 高功率激光远场焦斑测试用纹影器件 公开/授权日：2012-06-06
