发明公开
- 专利标题: X射线照射下六氟化硫气体局部放电检测方法及其装置
- 专利标题(英): Sulfur hexafluoride gas partial discharging detection method under X ray irradiation and apparatus thereof
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申请号: CN201110394116.4申请日: 2011-12-02
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公开(公告)号: CN102495338A公开(公告)日: 2012-06-13
- 发明人: 王达达 , 于虹 , 赵现平 , 魏杰 , 王科 , 谭向宇 , 况华 , 闵捷 , 杨俊坤 , 张少泉 , 吴章勤 , 殷兰 , 刘荣海
- 申请人: 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
- 申请人地址: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路中段云电科技园
- 专利权人: 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
- 当前专利权人: 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路中段云电科技园
- 代理机构: 昆明大百科专利事务所
- 代理商 何健
- 主分类号: G01R31/12
- IPC分类号: G01R31/12
摘要:
X射线照射下六氟化硫气体局部放电检测方法及其装置,装置包括试验变压器(1)、GIS试验段(2)、高压引线(3)、套管(4)、绝缘缺陷(5)、高频X射线机(6)、X射线发射窗(7)、四角支架(8)、高频X射线机控制箱(9)、校验装置(10)、检测阻抗(11)、电缆(12)、采集装置(13)、电池电缆(14)、电池组(15)、光纤(16)、光纤控制器(17)、USB线(18)和便携脉冲电流工业电脑(19)、耦合电容(20)。本发明具有高效、无损、可视等显著优点。