发明授权
- 专利标题: 沟槽功率器件结构的制造方法
- 专利标题(英): Method for manufacturing trench power device structure
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申请号: CN201110446220.3申请日: 2011-12-27
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公开(公告)号: CN102496568B公开(公告)日: 2014-01-01
- 发明人: 永福 , 陈雪萌
- 申请人: 上海先进半导体制造股份有限公司
- 申请人地址: 上海市徐汇区虹漕路385号
- 专利权人: 上海先进半导体制造股份有限公司
- 当前专利权人: 上海先进半导体制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市徐汇区虹漕路385号
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 陈亮
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L21/336
摘要:
本发明提供一种沟槽功率器件结构的制造方法,包括步骤:提供衬底,分为有源区和终端结构区域;通过离子注入和扩散工艺在衬底中形成保护环;在衬底表面形成场氧,完成有源区的定义;在衬底和场氧表面形成沟槽硬掩模层和光刻胶层,并对光刻胶层作图形化,沟槽位置与场氧边缘有部分重叠;依次刻蚀沟槽硬掩模层和场氧,露出衬底;以沟槽硬掩模层为掩模,刻蚀衬底形成沟槽,后去除沟槽硬掩模层;在沟槽内壁生长栅极氧化层,其在沟槽顶部边缘伸入场氧下方形成鸟嘴;进行后续半导体工艺,完成沟槽功率器件结构的制造过程。本发明在原有工艺过程中不增加工艺步骤,避免沟槽顶部尖角的形成,防止了由于沟槽顶部尖角导致的栅极漏电失效和可靠性问题的产生。
公开/授权文献
- CN102496568A 沟槽功率器件结构的制造方法 公开/授权日:2012-06-13
IPC分类: