- 专利标题: 一种采用陶瓷外壳封装的具有高隔离度的集成电路
- 专利标题(英): High-isolation integrated circuit packaged by adopting ceramic casing
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申请号: CN201110431259.8申请日: 2011-12-21
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公开(公告)号: CN102496612A公开(公告)日: 2012-06-13
- 发明人: 杨若飞 , 万天才 , 范麟 , 唐睿 , 徐骅 , 刘永光 , 李家祎 , 李明剑 , 陈昆
- 申请人: 重庆西南集成电路设计有限责任公司 , 中国电子科技集团公司第二十四研究所
- 申请人地址: 重庆市南岸区南坪丹龙路5号B栋5F
- 专利权人: 重庆西南集成电路设计有限责任公司,中国电子科技集团公司第二十四研究所
- 当前专利权人: 重庆西南集成电路设计有限责任公司,中国电子科技集团公司第二十四研究所
- 当前专利权人地址: 重庆市南岸区南坪丹龙路5号B栋5F
- 代理机构: 重庆市前沿专利事务所
- 代理商 郭云
- 主分类号: H01L23/552
- IPC分类号: H01L23/552 ; H01L23/64
摘要:
本发明提供一种采用陶瓷外壳封装的具有高隔离度的集成电路,包括管壳和芯片,管壳由壳底、壳体和盖板构成,芯片放置在壳底上,其特征在于:壳体包括第一介质层、第一金属基层、第二介质层、第二金属基层、第三介质层和第三金属基层;所述第一介质层、第一金属基层、第二介质层、第二金属基层、第三介质层和第三金属基层从上至下按顺序叠合,芯片通过键合线与第二金属基层连接,第一金属基层和第三金属基层通过第一通孔连接。本发明能够有效地降低信号通道的耦合效应,降低本振泄露,具有高的隔离度,系统结构简单,能够减少投片次数,提高了工作效率和经济效益,具有良好的应用前景。
公开/授权文献
- CN102496612B 一种采用陶瓷外壳封装的具有高隔离度的集成电路 公开/授权日:2013-09-18
IPC分类: