- 专利标题: 一种利用光纤Bragg光栅温度传感器测量瓷质绝缘子温度的方法
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申请号: CN201110428679.0申请日: 2011-12-20
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公开(公告)号: CN102519625B公开(公告)日: 2016-04-20
- 发明人: 李川 , 张旭 , 孙家禄 , 李建发 , 赵艳峰
- 申请人: 昆明理工大学 , 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
- 申请人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 专利权人: 昆明理工大学,云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
- 当前专利权人: 昆明理工大学,云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 主分类号: G01K11/32
- IPC分类号: G01K11/32
摘要:
本发明涉及一种利用光纤Bragg光栅温度传感器测量瓷质绝缘子温度的方法,属于光电子测量技术领域,首先将光纤Bragg光栅温度传感装置固定在瓷质绝缘子钢帽的外表面和瓷质绝缘子瓷盘的下表面;然后利用瓷质绝缘子温度的变化引起光纤Bragg光栅波长的改变,通过光纤Bragg光栅波长与温度的变化关系式,计算出瓷质绝缘子温度的变化值;最后根据正常工作状态下相邻绝缘子之间温差不超过1K,把所测瓷质绝缘子的温差进行比较,从而判断瓷质绝缘子的工作状态。本发明针对瓷质绝缘子两个常见发热部位的定点监测,实时采集数据,减少了室外环境对检测结果的影响,同时不需要配合人工巡检,减小了人为的测量误差。
公开/授权文献
- CN102519625A 一种利用光纤Bragg光栅温度传感器测量瓷质绝缘子温度的方法 公开/授权日:2012-06-27