本发明公开了一种涉及集成电路测试领域的等离子扫描驱动芯片测试装置，包括主处理器、数字逻辑模块、芯片供电模块、多路选择开关、功率管脚测试模块和显示终端，可用于进行PDP芯片的静态电流测试、工作电流测试、串行移位器功能测试、高压漏电流测试、输出拉电流测试、输出灌电流测试、输入高/低电压测试中的一种或多种。本发明在测试验证过程中具有测试效率高、耗时短、精度高的优点，同时重复使用率高，具有测试简单、覆盖率高的优点，且自动测量不容易损坏器件。大大降低了测试成本。