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发明公开
CN102564360A X射线位置测量装置、该装置的位置测量方法、以及该装置的位置测量用程序 有权 转让

  • 专利标题： X射线位置测量装置、该装置的位置测量方法、以及该装置的位置测量用程序
  • 专利标题（英）： X-ray position measuring device, position measuring method of the device, and position measuring program for the device
  • 申请号： CN201110318863.X
    申请日： 2011-10-19
  • 公开(公告)号： CN102564360A
    公开(公告)日： 2012-07-11
  • 发明人: 樫村恒夫 , 阿须贺拓
  • 申请人： 精工精密有限公司
  • 申请人地址： 日本国千叶县习志野市
  • 专利权人： 精工精密有限公司
  • 当前专利权人： 精工创时有限公司
  • 当前专利权人地址： 日本国千叶县习志野市
  • 代理机构： 上海市华诚律师事务所
  • 代理商 杨暄
  • 优先权： 2010-234971 2010.10.19 JP
  • 主分类号： G01B15/00
  • IPC分类号： G01B15/00
X射线位置测量装置、该装置的位置测量方法、以及该装置的位置测量用程序
摘要：
本发明提供一种能够在不增加成本的前提下实现高精度位置测量的X射线位置测量装置。X射线位置测量装置10包括使X射线发射器10a与X射线照相机10b向在测量对象上进行位置测量的位置移动的第1移动单元；用于在进行位置测量的位置，对图像显示部中的基准位置与第2X射线投影图像的位置之间的位置偏移量进行测量，同时将位置偏移量作为对应于该测量位置的补正量，存储在存储部的第1测量存储单元；用于使X射线发射器10a和X射线照相机10b向进行位置测量的位置移动的第2移动单元；以及用于在进行位置测量的位置，根据所述补正量使X射线发射器10a的发射中心与X射线照相机10b的光轴一致，同时进行测量对象的位置测量的第1位置测量单元。
摘要（英）：

The present invention provides an X-ray position measuring device capable of realizing high precision without increasing costs. The X-ray position measuring device, a position measuring method of x-ray position measuring apparatus and a position measuring program of x-ray position measuring apparatus are provided to change magnification rate by zoom in and out the X ray image penetrated through object. X-ray position measuring device (10) is provided to X-ray ejector(10a), X-ray camera(10b), a work mounting table(10c), and a first movable part, a second movable part, an image display, a jig for correction position, a controller, a memory unit. The controller comprises a first moving means, a first measuring memory means, a second moving means, and a first location measuring means. The first measuring memory means saves the error value of location in the memory unit.

公开/授权文献
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