发明授权
- 专利标题: 一种摆片刚度的测试方法
- 专利标题(英): Method for testing rigidity of chip
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申请号: CN201110452478.4申请日: 2011-12-30
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公开(公告)号: CN102564862B公开(公告)日: 2014-03-05
- 发明人: 张兰 , 赵连元 , 秦淑斌 , 刘英 , 吴艳 , 袁枫 , 杨守安 , 郭琳瑞
- 申请人: 航天科工惯性技术有限公司
- 申请人地址: 北京市丰台区海鹰路1号院2号楼三层
- 专利权人: 航天科工惯性技术有限公司
- 当前专利权人: 航天科工惯性技术有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区海鹰路1号院2号楼三层
- 主分类号: G01N3/14
- IPC分类号: G01N3/14
摘要:
本发明提出一种摆片刚度的测试方法,通过准备刚度测试装置、安装、测量位移、得到检测质量块在自重下的转角等步骤最终得到摆片刚度。本发明创造性地将位移引入到摆片刚度测试中,避免使用现有技术中采用复杂设备和费时的调试仪器,无需设计新的测试仪器,测试方式和装置简单;本发明实现了在加速度计装配前对摆片刚度的测试,操作简便,检测效率高,设备调试并完成一件产品的检测仅需约2分钟,而现有的动态法需要约15分钟,现有的静态法则需要约20分钟。
公开/授权文献
- CN102564862A 一种摆片刚度的测试方法 公开/授权日:2012-07-11