- 专利标题: 基于矢量网络分析仪的微波散射特性测试系统
- 专利标题(英): Microwave scattering property test system based on vector network analyzer
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申请号: CN201210049745.8申请日: 2012-02-29
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公开(公告)号: CN102590795B公开(公告)日: 2014-03-26
- 发明人: 张浙东 , 张玉石 , 李慧明 , 刘斌 , 许心瑜 , 李善斌 , 田霞 , 牟长军 , 尹志盈
- 申请人: 中国电子科技集团公司第二十二研究所
- 申请人地址: 山东省青岛市城阳区仙山东路36号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第二十二研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第二十二研究所
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市城阳区仙山东路36号
- 代理机构: 工业和信息化部电子专利中心
- 代理商 肖伟先
- 主分类号: G01S7/40
- IPC分类号: G01S7/40 ; G01R29/08
摘要:
本发明公开了一种基于矢量网络分析仪的微波散射特性测试系统,该系统包括:矢量网络分析仪、天线和主控计算机;其中,矢量网络分析仪用于在主控计算机控制下产生指定参数的脉冲射频信号,脉冲射频信号经天线发射出去;矢量网络分析仪还用于对天线接收的目标回波信号进行选通处理,得到指定区域范围内的微波散射特性数据。矢量网络分析仪产生窄带脉冲射频信号,频率范围覆盖L、S、C、X、Ku及Ka波段,并采用脉冲内定点测试模式,根据测试对象设置接收机选通门位置。本发明测试系统便于野外工作且性能稳定,既可用于地面背景与大面积伪装网散射特性测试,又可用于目标散射特性测试。
公开/授权文献
- CN102590795A 基于矢量网络分析仪的微波散射特性测试系统 公开/授权日:2012-07-18