- 专利标题: 一种高低电位多电学参量高精度同步测量方法及装置
- 专利标题(英): Method for precisely and synchronously measuring multiple high and low-potential electric parameters and device
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申请号: CN201210069994.3申请日: 2012-03-16
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公开(公告)号: CN102621376B公开(公告)日: 2014-06-11
- 发明人: 向念文 , 谷山强 , 陈家宏 , 陈维江 , 贺恒鑫 , 谢施君 , 岳一石 , 吴传奇
- 申请人: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 , 国网电力科学研究院
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞瑜路143号
- 专利权人: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司,国网电力科学研究院
- 当前专利权人: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞瑜路143号
- 代理机构: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- 代理商 李双全
- 主分类号: G01R19/25
- IPC分类号: G01R19/25
摘要:
本发明涉及一种高低电位多电学参量高精度同步测量方法及装置,本发明的装置由光纤连接高电位采集测量模块和低电位采集测量模块组成。本发明的方法是,采用光电传输技术对高低电位进行物理隔离,获取电学参量数据,利用高电位采集测量模块和低电位采集测量模进行数据采集,使高电位采集测量模块采集记录数据,高电位多个电学参量的波形数据通过光纤传输到低电位采集测量模块中,由低电位采集测量模块记录和存储,通过修正光纤、高电位采集测量模块内部电路、低电位采集测量模块内部电路的固定延时值,实现高低电位多个电学参量波形数据的高精度同步测量。方法构思新颖,简便易行,装置结构合理,能满足高低电位电学同步测量的高精度要求。
公开/授权文献
- CN102621376A 一种高低电位多电学参量高精度同步测量方法及装置 公开/授权日:2012-08-01