发明授权
- 专利标题: 一种老化测试板及制作该板的方法
- 专利标题(英): Aging test board and method for manufacturing same
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申请号: CN201210077742.5申请日: 2012-03-22
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公开(公告)号: CN102621466B公开(公告)日: 2015-02-11
- 发明人: 钱燕妮
- 申请人: 上海华力微电子有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号
- 专利权人: 上海华力微电子有限公司
- 当前专利权人: 上海华力微电子有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号
- 代理机构: 上海新天专利代理有限公司
- 代理商 王敏杰
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26
摘要:
本发明提供一种老化测试板,包括印刷电路板和集成电路,所述集成电路板焊接在印刷电路板的上表面,所述印刷电路板下表面设有植锡球,所述植锡球阵列排序分布在印刷电路板的下表面,所述集成电路的尺寸小于印刷电路板。本发明提供的老化测试板可以使得IC引脚重新排布,解决了通用老化板和专用老化板的固有缺点,在可以测试不同参数BGA封装产品的同时,又可以增加测试板上IC的数量,从而既可以重复利用测试板本,又可以增加测试效率。
公开/授权文献
- CN102621466A 一种老化测试板及制作该板的方法 公开/授权日:2012-08-01