发明公开
- 专利标题: 电子设备断电持续时间的检测方法
- 专利标题(英): Method for detecting interruption duration of electronic equipment
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申请号: CN201210128272.0申请日: 2012-04-27
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公开(公告)号: CN102628907A公开(公告)日: 2012-08-08
- 发明人: 谢国俊
- 申请人: 梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司 , 梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司 , 梅特勒-托利多(常州)称重设备系统有限公司
- 申请人地址: 江苏省常州市新北区华山中路5号
- 专利权人: 梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司,梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司,梅特勒-托利多(常州)称重设备系统有限公司
- 当前专利权人: 梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司,梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司,梅特勒-托利多(常州)称重设备系统有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省常州市新北区华山中路5号
- 代理机构: 常州市维益专利事务所
- 代理商 贾海芬
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00
摘要:
本发明涉及一种电子设备断电持续时间的检测方法,建立温度传感器读数线性综合值与时间关系的曲线模型,上电后通过安装在电子设备上的各温度传感器采集各温度初始值并经模数转换模块传至微处理器,根据本次上电时间并通过存入的曲线模型计算出电子设备本次温度传感器读数线性综合值并存储,作为计算此后断电持续时间的依据;当电子设备断电再次上电后,各将温度传感器重新采集各温度初始值,微处理器读取前一次存入的温度传感器读数线性综合值计算得到本次断电持续时间并保存,并根据本次上电时间计算出本次的温度传感器读数线性综合值再作为计算此后断电持续时间的依据。本发明不受放电时间限制,计时准确,不会影响电子设备本身性能。
公开/授权文献
- CN102628907B 电子设备断电持续时间的检测方法 公开/授权日:2015-04-29