• 专利标题: 气相生长装置、气相生长方法、及半导体元件的制造方法
  • 专利标题(英): Vapor deposition device, vapor deposition method, and semiconductor element manufacturing method
  • 申请号: CN201180004990.0
    申请日: 2011-04-19
  • 公开(公告)号: CN102656665B
    公开(公告)日: 2015-01-28
  • 发明人: 足立雄介坂上英和
  • 申请人: 夏普株式会社
  • 申请人地址: 日本大阪府
  • 专利权人: 夏普株式会社
  • 当前专利权人: 夏普株式会社
  • 当前专利权人地址: 日本大阪府
  • 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
  • 代理商 李玲
  • 优先权: 2010-103984 2010.04.28 JP
  • 国际申请: PCT/JP2011/059581 2011.04.19
  • 国际公布: WO2011/136077 JA 2011.11.03
  • 进入国家日期: 2012-06-15
  • 主分类号: H01L21/205
  • IPC分类号: H01L21/205 C23C16/455
气相生长装置、气相生长方法、及半导体元件的制造方法
摘要:
在本气相生长方法中,通过使V族原料气体导入配管(42)的内径(W1)大于III族原料气体导入配管(44)的外径(W2),将III族原料气体导入配管(44)以1对1的方式插入到V族原料气体导入配管(42)的内部,从而可防止III族原料气体配管(44)被冷却机构冷却,抑制金属材料凝固到配管壁面。由此,可提供一种将易凝固的金属材料有效地导入反应炉而不会使其附着于喷淋头或配管的壁面、从而能进行有效掺杂的气相生长装置、气相生长方法及半导体元件的制造方法。
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