• Patent Title: 基于微机械硅基固支梁的相位检测器及检测方法
  • Patent Title (English): Micromechanical silicon-based clamped beam-based phase detector and detection method
  • Application No.: CN201210204577.5
    Application Date: 2012-06-20
  • Publication No.: CN102735933B
    Publication Date: 2014-07-09
  • Inventor: 廖小平华迪
  • Applicant: 东南大学
  • Applicant Address: 江苏省南京市四牌楼2号
  • Assignee: 东南大学
  • Current Assignee: 东南大学
  • Current Assignee Address: 江苏省南京市四牌楼2号
  • Agency: 南京苏高专利商标事务所
  • Agent 柏尚春
  • Main IPC: G01R25/00
  • IPC: G01R25/00
基于微机械硅基固支梁的相位检测器及检测方法
Abstract:
本发明公开了一种基于微机械硅基固支梁的相位检测器及检测方法,该相位检测器包括硅衬底(1),生长在硅衬底(1)表面上的用于输出饱和电流的源极(2)和漏极(3),源极(2)与漏极(3)相对设置,第一固支梁锚区(61),第二固支梁锚区(62),栅极(5),设置在在该栅极(5)上方且与栅极(5)相对的固支梁(7)。检测方法包括如下步骤:当在第一下拉电极(81)和第二下拉电极(82)分上加载直流偏置时,固支梁(7)被下拉且与栅极(5)接触,两个频率相同而存在一定相位差的微波信号同时加载到栅极(5)上;漏极(3)饱和电流经处理滤去高频信号,得到相位差信息的电流信号。本发明结构简单,易于测量。
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