- 专利标题： 用于对测试元件上的试样进行分析的分析仪器
- 专利标题（英）： Device for analysis of a sample on a test element
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申请号： CN201210234776.0申请日： 2006-10-24
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公开(公告)号： CN102788875A公开(公告)日： 2012-11-21
- 发明人: S·里贝尔 , H·韦德 , G·巴因齐克 , M·奥格斯坦 , A·格罗瑟 , O·库比 , D·梅尼克 , B·索斯
- 申请人： 霍夫曼-拉罗奇有限公司
- 申请人地址： 瑞士巴塞尔
- 专利权人： 霍夫曼-拉罗奇有限公司
- 当前专利权人： 霍夫曼-拉罗奇有限公司
- 当前专利权人地址： 瑞士巴塞尔
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 杨国治
- 优先权： 05023219.8 2005.10.25 EP
- 分案原申请号： 2006800397274 2006.10.24
- 主分类号： G01N33/487
- IPC分类号： G01N33/487 ; G01N27/327
摘要：
本发明涉及一种用于对在测试元件上的试样进行分析的分析仪器，该分析仪器包括至少一个用于电流传输的电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)，该电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)适合于与至少一个另外的部件建立电接触。所述电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)在此是注塑的线路载体(MID)。
公开/授权文献
- CN102788875B 用于对测试元件上的试样进行分析的分析仪器 公开/授权日：2014-04-30
